| 缩写名/全名 |
IEEE DES TEST
IEEE Design & Test |
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| ISSN号 | 2168-2356 | ||||||||||||||||||||||||
| 研究方向 | COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | ||||||||||||||||||||||||
| 影响因子 | 2015:0.681, 2016:1.366, 2017:1.538, 2018:3.022, 2019:2.409, | ||||||||||||||||||||||||
| 出版国家 | UNITED STATES | ||||||||||||||||||||||||
| 出版周期 | |||||||||||||||||||||||||
| 年文章数 | 40 | ||||||||||||||||||||||||
| 出版年份 | 0 | ||||||||||||||||||||||||
| 是否OA | No | ||||||||||||||||||||||||
| 审稿周期(仅供参考) | |||||||||||||||||||||||||
| 录用比例 | |||||||||||||||||||||||||
| 投稿链接 | |||||||||||||||||||||||||
| 投稿官网 | https://www.ieee.org/membership-catalog/productdetail/showProductDetailPage.html?product=PER311-EPC | ||||||||||||||||||||||||
| h-index | 72 | ||||||||||||||||||||||||
| CiteScore |
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| PubMed Central (PMC)链接 | http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=2168-2356%5BISSN%5D | ||||||||||||||||||||||||
| 中科院SCI期刊分区 （ 2018年新版本） |
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| 中科院SCI期刊分区 （ 2020年新版本） |
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